English

NIR Plan Apo 50X/0.67 – Végtelenül korrekciós metallurgiai objektív szilíciumon keresztüli képalkotáshoz és szálas lézeres folyamatfelügyelethez

NIR Plan Apo 50X/0.67 – Végtelenül korrekciós metallurgiai objektív szilíciumon keresztüli képalkotáshoz és szálas lézeres folyamatfelügyelethez Kiemelt kép
  • NIR Plan Apo 50X/0.67 – Végtelenül korrekciós metallurgiai objektív szilíciumon keresztüli képalkotáshoz és szálas lézeres folyamatfelügyelethez
  • NIR Plan Apo 50X/0.67 – Végtelenül korrekciós metallurgiai objektív szilíciumon keresztüli képalkotáshoz és szálas lézeres folyamatfelügyelethez

NIR Plan Apo 50X/0.67 – Végtelenül korrekciós metallurgiai objektív szilíciumon keresztüli képalkotáshoz és szálas lézeres folyamatfelügyelethez

A NIR Plan Apo 50X/0.67 egy prémium, végtelenre korrigált plan apokromatikus mikroszkópobjektív, amelyet kifejezetten közeli infravörös (NIR) alkalmazásokhoz optimalizáltak. 0,67-es numerikus apertúrájával (NA) és 10 mm-es munkatávolságával (WD) kivételes felbontást (0,5 µm) és kiváló NIR-áteresztést biztosít a 380–700 nm-es látható tartományban, valamint a kritikus 1064 nm-es hullámhosszon – így ideális szilícium-lapkák hátoldali vizsgálatához, szilíciumon keresztüli méréstechnikához (TSV), valamint a szálas lézeres megmunkálás valós idejű monitorozásához.

Főbb specifikációk:

  • Nagyítás: 50x
  • Numerikus apertúra (NA): 0,67
  • Munkatávolság (WD): 10 mm
  • Fókusztávolság: 4 mm
  • Felbontás: 0,5 µm
  • Mélységélesség (±DF): 0,75 µm
  • Maximális látómező: 0,5 mm
  • Súly: 430 g
  • Optikai kialakítás: Végtelenül korrigált, sík apokromát (APO)
  • Működési hullámhossz: 380–700 nm és 1064 nm
  • Merülőközeg: Levegő

Termék részletei

Termékcímkék

Tipikus alkalmazások:
Félvezető-vizsgálat– Hátoldali wafer vizsgálat, TSV (szilíciumon keresztüli furatmérés), lézeres szeletelés utáni hibafelmérés
Hibaelemzés– Roncsolásmentes képalkotás szilícium hordozókon keresztül az eltemetett szerkezetek vizsgálatához
Lézeres megmunkálás– 1064 nm-es szálas lézeres abláció, fúrás vagy hegesztés valós idejű megfigyelése az anyagtudományban és a gyártásban
Kohászat és anyagtudomány– Lézeres hőhatásövezetek, újraöntött rétegek és mikroszerkezetek nagy felbontású vizsgálata
NIR fluoreszcencia mikroszkópia– Biológiai vagy közeli infravörös gerjesztést igénylő anyagmintákhoz
Mikroszkóp objektív


  • Előző:
  • Következő:
    • Írd ide az üzenetedet, és küldd el nekünk

    TERMÉKKATEGÓRIÁK

    A Wavelength 20 éve nagy pontosságú optikai termékek gyártására összpontosít.

    Nyomja meg az Enter billentyűt a kereséshez, vagy az ESC billentyűt a bezáráshoz